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產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)休支架鍍錫X-RAY膜厚儀
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：韓國Micro Pioneer XRF-2020??鍍層測厚儀銅上鍍鎳X射線鍍層測厚儀：檢測電子電鍍層厚度,銅上鍍鎳，鐵上鍍鎳'銅上鍍錫X-RAY膜厚儀半導(dǎo)休支架鍍錫X-RAY膜厚儀
半導(dǎo)休支架鍍錫X-RAY膜厚儀的詳細(xì)資料：
半導(dǎo)休支架鍍錫X-RAY膜厚儀鍍錫厚度測量范圍0.1-50um
銅上鍍錫X射線測厚儀：檢測電子電鍍層厚度,銅上鍍錫，鐵上鍍錫
鐵上鍍銅鍍錫等
XRF-2020電鍍層測厚儀
品牌 : MICRO PIONEER 先鋒
原產(chǎn)地 : 韓國
儀器功能 : 測量電鍍層厚度
檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
韓國XRF-2020鍍層測厚儀
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
特別訂制可測20cm以內(nèi)高度產(chǎn)品
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
測量時(shí)間：10－30秒
精度控制：
表層：±5%以內(nèi)，第二層：±8%以內(nèi)， 第三層：±12%以內(nèi)
測厚儀韓國Micro Pioneer XRF-2020
測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。
韓國XRF-2020電鍍測厚儀
品牌：Micro Pioneer
原產(chǎn)地：韓國
型號(hào)XRF-2020
功能及應(yīng)用：測量鍍：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。
韓國Micro Pioneer XRF-2020??鍍層測厚儀
銅上鍍錫X射線測厚儀：檢測電子電鍍層厚度,銅上鍍錫，鐵上鍍錫
鐵上鍍銅鍍錫等
半導(dǎo)休支架鍍錫X-RAY膜厚儀
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