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產(chǎn)品名稱：銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀韓國XRF-2000銅上鍍銀測厚儀測量電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層
銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀的詳細(xì)資料：
銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀
韓國XRF-2000銅上鍍銀測厚儀
1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。
XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號
不同型號功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計,可檢測大型樣品
儀器功能
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
韓國XRF2000X光鍍層測厚儀精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±15%以內(nèi)
銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀
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