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聯(lián)系我們X射線鍍層測厚儀即放即測,方便耐用
點擊次數(shù)：1176 更新時間：2015-12-05
X射線鍍層測厚儀特點
即放即測！
通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。
10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！
以*的設(shè)計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。
無標樣測量！
將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質(zhì)也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。
通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！
通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（zui大250×200mm）中方便地測量位置。
對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產(chǎn)品的功能及品質(zhì)，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內(nèi)可進行高精度測量的X射線鍍層測厚儀以來，已經(jīng)累計銷售6000多臺，得到了國內(nèi)外鍍層厚度、金屬薄膜測量領(lǐng)域的高度關(guān)注和支持。
為了適應(yīng)日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發(fā)了配備有自動定位功能的XX射線鍍層測厚儀。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內(nèi)對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。
近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。X射線鍍層測厚儀實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質(zhì)也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。
